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菲希尔电镀测厚仪/膜厚仪/膜厚测试仪采用全新数学计算方法和最新的FP（Fundamental Parameter）、DCM (Distenco Controlled Measurement)及强大的电脑功能来进行镀层厚度的计算。创新的高科技X-射线技术的支持，可对PCB线路板厚度，进行非破坏式的测量，符合国际标准来进行非破坏及不接触的测量。除了可以测量镀层厚度外，还可以计算合金中各种元素的含量。菲希尔电镀测厚仪/膜厚仪/膜厚测试仪只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多至4层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.采用模组形式设计的膜厚仪，可以有很多种不同的配置，例如：不同设置的XY轴及Z轴，及一些特大的测量室，来满足特大的种品及一些高低位相差比较大的测量室。主要用于防氧化保护金属镀层的厚度测量及一些在五金件中装饰性电镀层，如铬层及镍层在铜材上的厚度测量。
菲希尔电镀测厚仪/膜厚仪/膜厚测试仪特征:
A：区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定最多4层及24种元素。
B ：精确度领先于世界，精确到0.025mil
C ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求,如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
E ：可测量任一测量点，最小可达0.025 x 0.051毫米
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菲希尔电镀测厚仪/膜厚仪/膜厚测试仪